全自动化IC封装产线

全流程自动化闭环

全面导入智能制造系统,实现从进料核对、物料分拣、芯片烘烤、摆盘、除锡、拆卸、植球、清洗、球位检测到出货包装的全流程自动化,大幅减少人为干预。

通过MES系统实时监控生产数据,产能稳定性提升至99.8%,产品一致性误差控制在±0.02mm以内,每一批产品均符合严苛的工业标准。

  • 产线自动化率:100%
  • 产能稳定性:99.8%
  • 数据追溯:全流程生产记录可查

领先植球技术

原厂级工艺标准,满足高端内存模组需求

全自动IC植球设备细节

全自动植球+原厂工艺

采用自主研发的全自动植球设备,融合原厂级封装植球工艺,通过视觉定位系统精准控制锡球直径、间距与共面度,满足高端内存模组对微型化与高可靠性的双重需求。

支持锡球直径0.3-0.8mm定制,植球间距精度达±0.01mm,共面度误差≤0.02mm,可适配Server-DIMM、SO-DIMM、LPDDR等全系列DRAM产品。

  • 锡球直径范围:0.3-0.8mm(定制)
  • 植球精度:±0.01mm
  • 共面度误差:≤0.02mm

设备操作演示视频

直观展示全自动植球设备的操作流程与工艺细节

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视频时长约3分钟,建议在WiFi环境下观看

自动化测试

多维度严苛检测,确保产品全场景稳定运行

IC自动化测试设备

多平台全维度测试

配备多台最先进的全自动测试设备,能同时满足客户不同平台的严苛要求,可高速执行高低温循环、电性参数检测、老化测试等多维度测试。

严格品质管理

三维影像分析,实现零缺陷交付目标

IC锡球三维检测设备

全流程品质管控

导入全自动锡球扫描机,对每一颗封装进行三维影像分析,实时监控锡球平整性、偏移与缺陷,从源头杜绝品质风险。

建立“三检制度”(自检、互检、专检),每一道工序均设置品质检测节点,不合格产品直接剔除,确保最终出货产品合格率达100%,实现零缺陷交付目标。

  • 检测方式:三维影像分析
  • 监控项目:锡球平整性、偏移、缺陷
  • 出货合格率:100%